Journal of Communications Technology and ElectronicsJournal of Communications Technology and ElectronicsРадиотехника и электроника0033-84943034-5901The Russian Academy of Sciences65068010.31857/S0033849424050115IKYWJIPHYSICAL PROCESSES IN ELECTRONIC DEVICESФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХResearch ArticleEmpirical estimation of the frequency’s domain of susceptibility of electronic devices by the method of the striking electromagnetic influenceЭмпирическая оценка частотной области уязвимости электронных технических средств методом ударного электромагнитного воздействияOstashevV. E.ОсташевВ. Е.
Russian Federation
ostashev@ihed.ras.ruUlyanovA. V.УльяновА. В.
Russian Federation
ostashev@ihed.ras.ruJoint Institute for High Temperatures of Russian Academy of ScientistОбъединенный институт высоких температур РАН1505202469547347931012025Copyright ©; 2024, Russian Academy of SciencesCopyright ©; 2024, Российская академия наук2024Russian Academy of SciencesРоссийская академия наукhttps://innoscience.ru/0033-8494/article/view/650680

Problem of immunity of the electronic devices under powerful electromagnetic emission as well as mechanism of device response at out-of-band emission influence are discussed. Parameters which characterize level of emission influence on device are indicated. The method of the empirical estimation of threshold level of these parameters, which characterize immunity of device under the influence of ultra-wideband (UWB) emission is proposed.

Рассмотрена проблема обеспечения работоспособности электронных технических средств (ЭТС) при воздействии мощного электромагнитного излучения, в частности, рассмотрен механизм отклика ЭТС на внеполосное воздействие излучения. Указаны параметры излучений, характеризующие уровень их воздействия на ЭТС. Предложена методика эмпирической оценки пороговых значений этих параметров, которые характеризуют стойкость ЭТС к воздействию сверхширокополосного излучения.

UWB radiationelectronic deviceimmunity under emission influencelevel of emission influenceсверхширокополосное излучениеэлектронные устройствастойкость к воздействию излученияуровень воздействияПравительство Российской ФедерацииGovernment of the Russian FederationFoster J.S., Jr., Gjelde E., Graham W.R. et al. Report of the Commission to Assess the Threat to the United States from Electromagnetic Pulse (EMP) Attack. Critical National Infrastructures.Bernan, 2008. 218 p. http://www.empcommission.org/docs/A2473-EMP_Commission-7MB.pdfCamp M., Garbe H., Nitsch D. // IEEE Intern. Symp. on EMC. Minneapolis. 19–23 Aug. 2002. N.Y.: IEEE, 2002. P. 87.Вдовин В.А., Кулагин В.В., Черепенин В.А. // Электромагнитные волны и электрон. системы. 2003. Т. 8. № 1. С. 64.Bäckström M.G., Lövstrand K.G. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 396.Nitsch D., Camp M., Sabath F. et.al. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 380.Тяпин М.С., Мырова Л.О. // Информ. и телекоммун. технологии. 2006. № 2. С. 20.Baum C.E. // IEEE Trans. 2007. V. EMC-49. № 2. P. 211.Добыкин В.Д., Куприянов А.И., Пономарев В.Г., Шустов Л.Н. Радиоэлектронная борьба. Силовое поражение радиоэлектронных систем. М.: Вузовская книга, 2007.Бобрешов А.М., Дыбой А.В., Коровченко И.С. и др. // Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2008. Т. 11. № 3. С. 60.Симакин С.В., Ларионенко А.В. // Технологии ЭМС. 2009. № 3. С. 23.Hwang S.M., Hong J.I., Han S.-M. // J. Electromagn. Waves Appl. 2010. V. 24. № 8. P. 1059.Добыкин В.Д. // РЭ. 2011. Т. 56. № 2. С. 236.Ключник А.В., Пирогов Ю.А., Солодов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2013. № 1. http://jre.cplire.ru/jre/yan13/18/text.pdfУсыченко В.Г., Сорокин Л.Н. Стойкость сверхвысокочастотных радиоприемных устройств к электромагнитным воздействиям. М.: Радиотехника, 2017.Здухов Л.Н., Парфенов Ю.В., Тарасов О.А., Чепелев В.М. // Технологии ЭМС. 2018. № 2. С. 22.Toan N.V., Tung D.M., So J., Lee J.-G. // Adv. Electrical and Computer Engineering. 2019. V. 19. № 2. P. 37.Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2019. № 2. http://jre.cplire.ru/jre/feb19/13/text.pdfГОСТ Р 51317.2.5–2000. “Совместимость технических средств электромагнитная”. М.: Изд-во стандартов, 2001.Electromagnetic Environmental Effects Requirements for Systems. Department of defense interface standard MIL-STD-464C. Washington, 2010. 165 p. https://www.ema3d.com/wp-content/uploads/downloads/MIL-STD-464C.pdfГОСТ 26883–86. Внешние воздействующие факторы. Термины и определения. М.: Стандартинформ, 2008.Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Технологии ЭМС. 2018. № 4. С. 57.Баскаков С.И. Радиотехнические цепи и сигналы. М.: Высш. школа, 1983.Осташев В.Е., Ульянов А.В., Федоров В.М. // РЭ. 2020. Т. 65. № 3. С. 234.Осташев В.Е., Ульянов А.В. // РЭ. 2021. Т. 66. № 11. С. 1.