<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Journal of Communications Technology and Electronics</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Journal of Communications Technology and Electronics</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Радиотехника и электроника</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">0033-8494</issn><issn publication-format="electronic">3034-5901</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">The Russian Academy of Sciences</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">684123</article-id><article-id pub-id-type="doi">10.31857/S0033849425010085</article-id><article-id pub-id-type="edn">HJFUQZ</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>PHYSICAL PROCESSES IN ELECTRONIC DEVICES</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject>Research Article</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">On the causes of low critical current in twin film high-temperature superconductors</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>О причинах низкого критического тока в двойниковых пленочных высокотемпературных сверхпроводниках</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Rostami</surname><given-names>Kh. R.</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Ростами</surname><given-names>Х. Р.</given-names></name></name-alternatives><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><bio xml:lang="en"><p>Fryazino branch</p></bio><bio xml:lang="ru"><p>Фрязинский филиал</p></bio><email>rostami@ms.ire.rssi.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Luzanov</surname><given-names>V. А.</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Лузанов</surname><given-names>В. А.</given-names></name></name-alternatives><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><bio xml:lang="en"><p>Fryazino branch</p></bio><bio xml:lang="ru"><p>Фрязинский филиал</p></bio><email>rostami@ms.ire.rssi.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff1"><aff><institution xml:lang="en">Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics RAS</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН</institution></aff></aff-alternatives><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2025-01-17" publication-format="electronic"><day>17</day><month>01</month><year>2025</year></pub-date><volume>70</volume><issue>1</issue><fpage>73</fpage><lpage>81</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2025-06-13"><day>13</day><month>06</month><year>2025</year></date></history><permissions><copyright-statement xml:lang="en">Copyright ©; 2025, Russian Academy of Sciences</copyright-statement><copyright-statement xml:lang="ru">Copyright ©; 2025, Российская академия наук</copyright-statement><copyright-year>2025</copyright-year><copyright-holder xml:lang="en">Russian Academy of Sciences</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="ru">Российская академия наук</copyright-holder></permissions><self-uri xlink:href="https://innoscience.ru/0033-8494/article/view/684123">https://innoscience.ru/0033-8494/article/view/684123</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>The influence of internal local and external demagnetization fields on the critical current density of inter-doublet Josephson weak bonds <italic>J</italic><italic><sub>c</sub></italic> of high-temperature superconducting YBCO samples is investigated using the oscillation differential technique of local approximation. In the zero-field and zero-field cooling with flux accumulation regimes for samples with different <italic>J</italic><italic><sub>c</sub></italic> and twin sizes <italic>d</italic>, the demagnetization fields of samples <italic>H</italic><sub>D1</sub> and <italic>H</italic><sub>D2</sub> have been measured. The values of: <italic>d</italic>; thermodynamic first critical magnetic fields of twins <italic>H</italic><italic><sub>ic1</sub></italic>; twin demagnetization fields <italic>H</italic><sub>D tr</sub>; density of intra-twin effective critical currents <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>ef</sub>; critical pinning currents <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>p</sub> and shielding Meissner critical currents <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>M</sub> are determined. It is shown that at <italic>H</italic><italic><sub>ic</sub></italic><sub>1</sub> fields the twins of large sizes “disintegrate” into a group of smaller twins with close demagnetizing factors. It is found that an increase in <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>M</sub>, <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>ef</sub>, and a decrease in <italic>d</italic> lead, on the one hand, to a decrease in <italic>J</italic><italic><sub>c</sub></italic> due to an increase in the demagnetization field of the sample <italic>H</italic><sub>D</sub> and <italic>H</italic><sub>D tr</sub> created by <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>ef</sub> and <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>M</sub>, and, on the other hand, to an increase in <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>ef</sub> and <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>M</sub> due to a decrease in <italic>d</italic>.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>С помощью осцилляционной дифференциальной методики локального приближения исследовано влияние внутренних локальных и внешних полей размагничивания на величину плотности критического тока междвойниковых джозефсоновских слабых связей <italic>J</italic><italic><sub>c</sub></italic> высокотемпературных сверхпроводниковых образцов YBCO. В режимах охлаждения в нулевом поле и охлаждения в нулевом поле с накоплением потока для образцов с разными<bold> </bold><italic>J</italic><italic><sub>c</sub></italic><bold> </bold>и размерами двойников<italic> d</italic><bold> </bold>измерены поля размагничивания образцов<bold> </bold><italic>H</italic><sub>р1</sub> и<bold> </bold><italic>H</italic><sub>р2</sub>. Определены значения: <italic>d</italic>; термодинамических первых критических магнитных полей двойников <italic>H</italic><sub>тк1</sub>; полей размагничивания двойников <italic>H</italic><sub>рд</sub>; плотности внутридвойниковых эффективных критических токов <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>эф</sub>; критических токов пиннинга <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>п</sub><bold> </bold>и экранирующих мейснеровских критических токов<bold> </bold><italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>М</sub>. Показано, что при полях <italic>H</italic><sub>тк1</sub> двойники больших размеров скачкообразно «распадаются» на группу двойников меньших размеров с близкими размагничивающими факторами. Обнаружено, что увеличение <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>М</sub>, <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>эф</sub> и уменьшение <italic>d</italic> приводят с одной стороны к снижению <italic>J</italic><italic><sub>c</sub></italic><italic> </italic>из-за увеличения поля размагничивания образца <italic>H</italic><sub>р</sub> и <italic>H</italic><sub>р д</sub>, созданного <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>эф</sub> и <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>М</sub>, с другой стороны – к усилению <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>эф</sub> и <italic>J</italic><italic><sub>c </sub></italic><sub>М</sub><italic> </italic>за счет уменьшения <italic>d.</italic></p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="en"><kwd>high-temperature superconductors</kwd><kwd>twins</kwd><kwd>demagnetization fields</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>высокотемпературные сверхпроводники</kwd><kwd>двойники</kwd><kwd>размагничивающие поля</kwd></kwd-group><funding-group><award-group><funding-source><institution-wrap><institution xml:lang="ru">Правительство РФ</institution></institution-wrap><institution-wrap><institution xml:lang="en">Government of the Russian Federation</institution></institution-wrap></funding-source></award-group></funding-group></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation>Obradors X., Puig T., Ricart S. et al. // Supercond. Sci. Technol. 2024. V. 37. № 5. Article No. 053001.</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation>Congreve J.V.J., Shi Y., Tutt N.C. et al. // Supercond. Sci. Technol. 2024. V. 37. № 6. Article No. 065019.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation>Yang Y., Deng G. // Supercond. Sci. Technol. 2024. V. 37. № 8. Article No. 085011.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation>Sueyoshi T., Enokihata R., Yamaguchi H. et al. // Supercond. Sci. Technol. 2024. V. 37. № 30. Article No. 3075010.</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation>Soman A.A., Wimbush S.C., Long N.J. et al. // Supercond. Sci. Technol. 2024. V. 37. № 8. Article No. 085004.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation>Голубков М.В., Степанов В.А. // ФТТ. 2024 Т. 66. № 4. С. 532.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation>Ростами Х.Р. // Письма в ЖЭТФ. 2018. Т. 108. № 11. С. 734.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation>Ростами Х.Р. // ЖТФ. 2020. T. 90. № 12. C. 2066.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation>Bean C.P. // Rev. Mod. Phys. 1964. V. 36. № 1. Р. 31.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation>Тинкхам М. // Введение в сверхпроводимость. М.: Атомиздат, 1980.</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation>Линтон Э. // Сверхпроводимость. М.: Мир, 1971.</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation>Svistunov V.M., D’yachenko A.I. // Supercond. Sci.Technol.1992. V. 5. № 2. Р. 98.</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>13.</label><mixed-citation>Тarantini C., Yamamoto A., Jiang J. et al. // Supercond. Sci. Technol. 2016. V. 29. № 2. Article No.025004.</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>14.</label><mixed-citation>Елистратов А.А., Максимов И.Л. // ФТТ. 2000. Т. 42. № 2. С. 196.</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>15.</label><mixed-citation>Гохфельд Д.М. // ФТТ. 2014. Т. 56. № 12. С. 2298.</mixed-citation></ref></ref-list></back></article>
